Historique de la Société et du développement des produits

En 1889, création par Wilhelm Heidenhain 1889 à Berlin d’une entreprise de gravure, qui fabriquait des modèles, des enseignes, des divisions et échelles de balance. En 1948, à l’issue du dernier conflit mondial, le fils du fondateur créa la société DR. JOHANNES HEIDENHAIN à Traunreut. Les premiers produits furent d’abord des divisions ainsi que des échelles de balances. Assez rapidement furent commercialisés, les premiers lecteurs optiques destinés aux machines-outils. Puis ce fut, au début des années 60, l’avènement des systèmes de mesure linéaire et angulaire à balayage photoélectrique. Ces développements ont contribué à l’automatisation de nombreuses machines et équipements dans l’industrie.

Depuis le milieu des années 70, HEIDENHAIN est devenu un acteur majeur dans les domaines des commandes numériques et des entraînements pour les machines-outils.

Dès sa création, l’orientation de l’entreprise fut très technique. Pour cette raison, Dr. Johannes Heidenhain légua en 1970 les parts de l’entreprise à une fondation, assurant ainsi la pérennité de l’entreprise ainsi que son développement technique. Ceci permet aujourd’hui à HEIDENHAIN de garantir des investissements importants dans les domaines de la recherche et du développement.

Historique

1889	Fondation de l'entreprise de gravure sur métal W. HEIDENHAIN à Berlin
1923	Dr. Johannes Heidenhain entre dans la société de son père
1928	Invention du procédé de copie avec sulfure de plomb METALLUR
1948	Création de la société DR. JOHANNES HEIDENHAIN à Traunreut
1950	Invention du procédé DIADUR
1970	Création de la fondation à but non lucratif DR. JOHANNES HEIDENHAIN GmbH
1980	Décès du Dr. Johann Heidenhain
2008	HEIDENHAIN est représentée partout dans le monde, dans 50 pays

Historique des systèmes de mesure: Divisions de précision

1936	Règle de mesure en verre copiée par procédé photo-mécanique (précision ± 0,015 mm)
1943	Copie de disque gradué (précision ± 3 secondes)
1952	Echelles de balances constituant une grande part du chiffre d'affaires
1967	Réseaux sans support, microstructures
1985	Marques de référence à distances codées pour divisions incrémentales
1986	Règles de mesure à réseaux de phases
1995	Réseaux plans pour systèmes de mesure en 2D
2002	Structures planaires avec réseaux de phases pour systèmes de mesure interfér

Historique des systèmes de mesure: Systèmes de mesure linéaire

1952	Systèmes de mesure linéaire optiques pour machines-outils
1961	Système de mesure linéaire incrémental LID 1, période de divisions 8 µm, résolution 2 µm
1963	Système de mesure linéaire absolu LIC avec 18 pistes, code binaire
1965	Interféromètre laser pour l'étalonnage des machines-outils
1968	Système de mesure linéaire incrémental étanche LIDA 55.6 avec règle de mesure en acier (40 µm)
1987	Système de mesure linéaire incrémental étanche LS 101, résolution 0,1 µm
1987	Système de mesure linéaire interférentielle à règle nue LIP 101, résolution 0,02 µm
1989	Système de mesure linéaire interférentielle à règle nue LIP 301, résolution 1 nm
1994	Système de mesure linéaire absolu étanche LC 181 (7 pistes, longueur de mesure 3m, résolution 0,1 µm)
1996	Système de mesure linéaire absolu étanche LC 481 (code pseudo-aléatoire, longueur de mesure 2 m, résolution 0,1 µm)
1999	Système de mesure linéaire absolu étanche LC 481 (2 pistes, code pseudo-aléatoire)
2005	Système de mesure linéaire absolu étanche LC 183 (code pseudo-aléatoire, longueur de mesure 4 m, résolution 0,005 µm, EnDat 2.2)
2008	Système de mesure linéaire interférentielle LIP 200 (période de signal 0,512 µm, vitesse de déplacement jusqu’à 3 m/s)

Historique des systèmes de mesure: Systèmes de mesure angulaire

1952	Systèmes de mesure angulaire optiques
1975	Système de mesure angulaire incrémental ROD 800, précision ± 1 seconde
1986	Système de mesure angulaire incrémental RON 905, précision ± 0,2 seconde
1997	Système de mesure magnétique encastrable ERM 100
1997	Système de mesure angulaire absolu avec accouplement statorique intégré, en version à arbre creux RCN 723 (23 bits simple tour, précision ± 2 secondes)
2000	Système de mesure angulaire interérentiel ERP 880 (180.000 périodes de signal/tour, précision ± 0,2 seconde)
2004	Système de mesure angulaire absolu RCN 727 avec diamètres de l'arbre creux jusqu'à 100 mm

Historique des systèmes de mesure: Capteurs rotatifs

1961	Capteur rotatif incrémental ROD 1 avec 10.000 traits
1964	Absoluter Drehgeber ROC (17 Bit, Dual-Code)
1981	Inkrementaler Drehgeber ROD 426, der Industriestandard
1987	Capteur rotatif absolu multitours ROC 221 S (12 bits simple tour, 9 bits multitours)
1992	Capteurs rotatifs incrémentaux encastrables ERN 1300 pour températures de fonctionnement jusqu'à 120 °C
1993	Capteurs rotatifs absolus simple tour et multitours encastrables ECN 1300 et EQN 1300 pour températures de fonctionnement jusqu'à 115 °C
1997	Magnetische Einbau-Drehgeber ERM 100
2000	Capteur rotatif absolu multitours miniature EQN 1100 en technologie Chip on Board
2000	Capteur rotatif absolu simple tour ECN 100 pour diamètres de l'arbre jusqu'à 50 mm
2004	Capteurs rotatifs absolus simple tour et multitours miniatures ECI 1100 et EQI 1100 avec balayage inductif Capteurs
2007	Absolute Drehgeber mit “Functional Safety” und EnDat 2.2-Interface

Historique des commandes numériques, électroniques

1968	Visualisations numériques de cotes pour machines-outils conventionnelles
1968	Compteur/décompteur VRZ 59.4 pour 1 axe
1974	Visualisation numérique de cotes HEIDENHAIN 5041
1976	Commandes numériques de positionnement TNC 110 et TNC 120 pour 3 axes
1981	Commande numérique de contournage pour 3 axes TNC 145
1984	Commande numérique de contournage TNC 155 avec simulation graphique de l'usinage de la pièce
1995	Interface série synchrone EnDat pour systèmes de mesure de positions absolus
1996	Commande de contournage TNC 426 avec asservissement moteur digital pour 5 axes
1996	Ensemble HEIDENHAIN TNC 410 MA avec variateur et moteurs
2004	Commande de contournage iTNC 530 avec mode d'exploitation smarT.NC proposé en alternative
2007	TNC 620 avec HSCI (Serial Controller Interface)