La société HEIDENHAIN était à l'origine une entreprise de travail du métal créée en 1889 à Berlin par Wilhelm Heidenhain. Elle fabriquait alors des matrices, des panneaux, des divisions de mesure et des échelles graduées. Après sa destruction complète pendant la seconde guerre mondiale, le fils de son fondateur décida de créer la société DR. JOHANNES HEIDENHAIN à Traunreut, en Bavière. Les premiers produits commercialisés par l'entreprise étaient, là encore, des divisions de mesure et des échelles graduées qui permettaient d'afficher le prix sur les balances. Bientôt, les premiers systèmes de mesure de position optiques pour machines-outils furent intégrés dans le programme commercial et le début des années 60 vit l'arrivée des premiers systèmes de mesure linéaire et angulaire à balayage photoélectrique. Ces développements ont ainsi favorisé l’automatisation d'un grand nombre de machines et d'équipements de production. Au milieu des années 70, HEIDENHAIN devint également un fabricant de systèmes de commande et d'entraînement pour machines-outils qui n'a cessé de gagner en importance depuis. Dès sa création, l'entreprise a pris une forte orientation technique. Pour protéger cela et pour assurer l’autonomie pérenne de l'entreprise dans le développement continu, le Dr. Johannes Heidenhain décida en 1970 de léguer ses parts de la société à une fondation à but non lucratif. Grâce à cette décision, la société HEIDENHAIN est aujourd'hui en mesure d'investir massivement dans la recherche et le développement.
1889
Création de l'entreprise de métal W. HEIDENHAIN à Berlin
1923
Le Dr. Johannes Heidenhain intègre l'entreprise familiale.
1948
La nouvelle société DR. JOHANNES HEIDENHAIN est créée à Traunreut, en Bavière.
1950
Invention du procédé DIADUR qui consiste à déposer des divisions de précision résistantes sur du verre à l'aide d'une copie de la matrice originale
1970
Création de la fondation à but non lucratif DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH
1980
Décès du Dr. Johannes Heidenhain
2014
La société HEIDENHAIN est représentée dans tous les pays industrialisés.
Systèmes de mesure angulaire pour le télescope Daniel K. Inouye Solar (DKIST, anciennement ATST - Advanced Technology Solar Telescope)
1936
Règle de mesure en verre d'une précision ± 0,015 mm, copiée par un procédé photo-mécanique
1943
Disque gradué copié d'une précision de ± 3 secondes d'arc
1952
Les échelles graduées pour balances deviennent la principale source de chiffre d'affaires.
1967
Réseaux de phases sans support, microstructures
1985
Marques de référence à distances codées pour règles de mesure incrémentales
1986
Règles de mesure à réseau de phases
1995
Large réseau en grille pour systèmes de mesure à deux coordonnées
2002
Structures de réseaux de phases planaires pour systèmes de mesure linéaire interférentiels
2005
Réseau d'amplitude insensible aux salissures obtenu par ablation au laser
2009
Réseau en grille de grandes dimensions (400 mm x 400 mm) pour les systèmes de mesure utilisés dans l'industrie des semi-conducteurs
Systèmes de mesure linéaire optiques pour machines-outils
1961
Système de mesure linéaire incrémental LID 1, période de division 8 µm / résolution de 2 µm
1963
Système de mesure linéaire codé LIC avec 18 pistes, code binaire / résolution de 5 µm
1965
Interféromètre à laser pour l'étalonnage des machines-outils
1987
Système de mesure linéaire interférentiel à règle nue LIP 101, résolution de 0,02 µm
1989
Système de mesure linéaire interférentiel à règle nue LIP 301, résolution de 1 nm
1992
Système de mesure linéaire interférentiel à deux dimensions PP 109R
2008
Système de mesure linéaire interférentiel LIP 200 avec une période de signal de 0,512 µm, pour des vitesses de déplacement allant jusqu'à 3 m/s
2010
Système de mesure linéaire absolu à règle nue LC 4000 avec 2 pistes,code pseudo-aléatoire (PRC), EnDat 2.2, longueurs de mesure jusqu'à 27 m et résolution de 1 nm
2012
Système de mesure linéaire absolu à une seule piste LIC 2100
1966
Système de mesure linéaire incrémental cartérisé LIDA 55.6 avec ruban de mesure en acier
1975
Système de mesure linéaire incrémental LS 500 avec règle en verre, longueur de mesure jusqu'à 3 m, résolution de 10 µm
1977
Système de mesure linéaire incrémental LIDA 300, longueur de mesure jusqu'à 30 m
1994
Système de mesure absolu LC 181 avec 7 pistes, interface EnDat, longueur de mesure jusqu'à 3 m, résolution de 0,1 µm
1996
Système de mesure linéaire absolu LC 481 avec 2 pistes, code pseudo-aléatoire (PRC), EnDat, longueur de mesure jusqu'à 2 m
2011
Système de mesure linéaire absolu LC 200, longueur de mesure jusqu'à 28 m, code pseudo-aléatoire (PRC), résolution de 10 nm
Système de mesure linéaire absolu LC xx5, longueur de mesure jusqu'à 4 m, résolution de 1 nm
Systèmes de mesure angulaire optiques
1957/1961
Système de mesure angulaire photoélectrique ROD 1 avec 40 000 périodes de signale/tour, 10 000 traits
1962
ROD 1 avec 72 000 périodes de signal/tour
1964
Système de mesure angulaire ROC 15 / résolution 17 bits
Système de mesure angulaire incrémental ROD 800, précision ± 1 seconde d'arc
Système de mesure angulaire incrémental ROD 905, précision ± 0,2 secondes d'arc
1997
Système de mesure angulaire absolu avec accouplement statorique intégré RCN 723, 23 bits en simple tour, interface EnDat, précision de ± 2 secondes d'arc
2000
Système de mesure angulaire interférentiel ERP 880 avec 180 000 périodes de signal/tour, précision ± 0,2 secondes d'arc
2004
Système de mesure angulaire absolue RCN 727 avec un diamètre d'arbre creux allant jusqu'à 100 mm
Système de mesure angulaire interférentiel ROP 8080, pour les équipements de test de wafers combinant un roulement de charge et un système de mesure angulaire, 360 000 périodes de signal/tour
Système de mesure angulaire interférentiel miniaturisé ERP 1080 en version "Single-Chip-Encoder"
Capteur rotatif photoélectrique incrémental ROD 1 avec 10 000 traits
1981
Capteur rotatif incrémental ROD 426, standard de l'industrie
Capteur rotatif multitours absolu ROC 221 S, 12 bits en simple tour, 9 bits en multitours
Capteurs rotatifs incrémentaux encastrables ERN 1300 pour des températures de service jusqu'à 120°C
1993
Capteur rotatif simple tour absolu ECN 1300 et capteur rotatif multitours absolu EQN 1300
Capteur rotatif absolu multitours miniaturisé EQN 1100 avec technologie "Chip-On-Board"
Capteur rotatif simple tour absolu ECN 100 avec un diamètre d'arbre creux allant jusqu'à 50 mm
Capteur rotatif simple tour absolu miniaturisé ECI 1100 et capteur rotatif multitours absolu miniaturisé EQI 1100 (avec balayage inductif)
2007
Capteurs rotatifs absolus avec "Functional Safety" SIL2/PL d et interface EnDat 2.2
1968
Compteurs croissants/décroissants VRZ 59.4 pour 1 axe
1974
Visualisation de cotes numérique HEIDENHAIN 5041
1976
Commandes numériques de positionnement TNC 110 et TNC 120 pour 3 axes
1979
Commandes numériques paraxiales TNC 131 / TNC 135
Commande numérique de contournage pour 3 axes TNC 145
1984
Commande numérique de contournage pour 4 axes TNC 155, avec simulation graphique de l'usinage de la pièce
Interface série synchrone EnDat pour systèmes de mesure de position absolus
Commande numérique de contournage TNC 426 avec asservissement numérique des entraînements pour 5 axes
Pack complet HEIDENHAIN TNC 410 MA avec variateurs et moteurs
Commande numérique de contournage iTNC 530 avec smarT.NC comme mode de programmation alternatif
Commande numérique de contournage TNC 620 avec HSCI, l'interface de contrôle série de HEIDENHAIN
Commande numérique de contournage TNC 640 pour un usinage combinant fraisage et tournage